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400-700nm 45/0 ग्रेटिंग स्पेक्ट्रोमीटर, प्रिंटिंग प्लांट्स प्रोसेस कंट्रोल के लिए

ग्राहक समीक्षा
उच्च गुणवत्ता वाली मशीन, यह अद्भुत और शांत काम करती है।

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400-700nm 45/0 ग्रेटिंग स्पेक्ट्रोमीटर, प्रिंटिंग प्लांट्स प्रोसेस कंट्रोल के लिए

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बड़ी छवि :  400-700nm 45/0 ग्रेटिंग स्पेक्ट्रोमीटर, प्रिंटिंग प्लांट्स प्रोसेस कंट्रोल के लिए

उत्पाद विवरण:
उत्पत्ति के प्लेस: चीन
ब्रांड नाम: HiYi
प्रमाणन: CE, ISO13485, ISO9001
मॉडल संख्या: YD5010 प्लस
भुगतान & नौवहन नियमों:
न्यूनतम आदेश मात्रा: 1
पैकेजिंग विवरण: पेपर कार्टन
प्रसव के समय: 3-7 दिन
भुगतान शर्तें: टी / टी, एल / सी, वेस्टर्न यूनियन, मनीग्राम
आपूर्ति की क्षमता: 10000 सेट / महीना

400-700nm 45/0 ग्रेटिंग स्पेक्ट्रोमीटर, प्रिंटिंग प्लांट्स प्रोसेस कंट्रोल के लिए

वर्णन
नाम: YD5010 प्लस झंझरी स्पेक्ट्रोफोटोमीटर डेंसिटोमीटर माप ज्यामिति: 45/0
तरंग दैर्ध्य रेंज: 400 ~ 700nm बैटरी: 3.7V, 5000mAh ली-आयन बैटरी, 8 घंटे के भीतर 6000 माप
आयाम: एल * डब्ल्यू * एच = 184 * 77 * 105 मिमी वजन: लगभग 600 ग्रा
हाई लाइट:

45/0 झंझरी स्पेक्ट्रोमीटर

,

400nm झंझरी स्पेक्ट्रोमीटर

,

700nm झंझरी स्पेक्ट्रोमीटर

YD5010 प्लस झंझरी स्पेक्ट्रोफोटोमीटर

अवलोकन

 

नई मॉडल YD5010 प्लस झंझरी स्पेक्ट्रोफोटोमीटर Densitometer 45/0 (45 अंगूठी के आकार का रोशनी, 0 डिग्री देखने के कोण), मानक आईएसओ 5-4, CIE No.15 का अनुपालन करें।यह इंक प्रिंटिंग, फिल्म प्रोसेसिंग, टेक्सटाइल प्रिंटिंग और डाइंग, प्लास्टिक इलेक्ट्रॉनिक्स और कलर एंड क्वालिटी कंट्रोल के लिए अन्य उद्योगों में उपयोग करने के लिए उपयुक्त है, विशेष रूप से ऑप्टिकल घनत्व और स्याही मुद्रण में डॉट इज़ाफ़ा की माप और गुणवत्ता नियंत्रण के लिए उपयुक्त है;और यह एकल एपर्चर को अनुकूलित करने में सक्षम है is2 मिमी, ,4 मिमी, able8 मिमी।

आईएसओ 13655 मानक द्वारा निर्धारित 45/0 ज्यामितीय ऑप्टिकल रोशनी और एमओ, एम 1, एम 2, एम 3 की परीक्षण स्थितियों के तहत, उपकरण नमूनों के प्रतिबिंब डेटा को सही ढंग से माप सकता है।कई रंग स्थानों के तहत, यह विभिन्न मुद्रण घनत्व अनुक्रमित, रंग अंतर सूत्र और रंग सूचकांक को सही ढंग से माप सकता है, और उपयोगकर्ता के विभिन्न मापदंडों के नियमित परीक्षण को पूरा कर सकता है।

400-700nm 45/0 ग्रेटिंग स्पेक्ट्रोमीटर, प्रिंटिंग प्लांट्स प्रोसेस कंट्रोल के लिए 0

 

स्वतंत्रता

 

सुंदर उपस्थिति और ergonomic संरचना डिजाइन के 1.Perfect संयोजन;

2. लंबे जीवन और कम बिजली की खपत के साथ संयुक्त एलईडी प्रकाश स्रोतों, यूवी प्रकाश सहित;

3. वैकल्पिक एपर्चर: /2 / 4/8 मिमी, अधिक नमूनों के लिए अनुकूल;

4. सटीक माप परावर्तन स्पेक्ट्रम, CMYK घनत्व और नमूने का लैब मूल्य;

5. उच्च विन्यास इलेक्ट्रॉनिक हार्डवेयर: 3.5 इंच TFT सच रंग स्क्रीन, कैपेसिटिव टच स्क्रीन, अवतल झंझरी, 256 पिक्सेल दोहरे सरणी CMOS छवि संवेदक, आदि।

6. दो मानक पर्यवेक्षक कोण: 2/10, कई प्रकाश स्रोत मोड और रंग प्रणाली;

7.USB मोड व्यापक रूप से उपयोगी है;

8. बड़े क्षमता भंडारण स्थान, 10,000 से अधिक परीक्षण डेटा;

9. पूरी तरह से प्रक्रिया नियंत्रण और मुद्रण संयंत्रों की गुणवत्ता नियंत्रण के लिए उपयुक्त;

10. पीसी सॉफ्टवेयर में शक्तिशाली कार्य विस्तार होता है।

 

विनिर्देश
 

 

नमूना YD5010 प्लस
माप ज्यामिति 45/0 (45 रिंग के आकार का रोशनी, 0 डिग्री व्यूइंग एंगल);आईएसओ 5-4, CIE नंबर 15
प्रकाश स्रोत संयुक्त एलईडी लाइट, यूवी लाइट
वर्णक्रमीय पृथक्करण यंत्र अवतल झंझरी
डिटेक्टर 256 छवि तत्व डबल ऐरे CMOS छवि संवेदक
तरंग दैर्ध्य रेंज 400 ~ 700nm
तरंग दैर्ध्य पिच 10nm
आधा बैंडविड्थ 10nm
माप की स्थिति आईएसओ 13655 माप की शर्तों का अनुपालन;
M0 (CIE लाइट सॉरे ए)
M1 (CIE लाइट सूयर D50)
एम 2 (यूवी प्रकाश स्रोत को छोड़कर)
एम 3 (एम 2 + ध्रुवीकृत प्रकाश फिल्टर)
मापन एपर्चर अनुकूलित एक एपर्चर: mm2 मिमी, ,4 मिमी, optional8 मिमी वैकल्पिक
रंग रिक्त स्थान CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh
रंग अंतर सूत्र ΔE * ab, ΔE * 94, ,E * 00
प्रेक्षक कोण 2 ° / 10 °
प्रबुद्ध ए, सी, डी 50, डी 55, डी 65, डी 75, एफ 2, एफ 7, एफ 11, एफ 12
माप का समय लगभग १.५ से
repeatability घनत्व: 0.01 डी के भीतर
इंटर-इंस्ट्रूमेंट एरर CRE * ab 0.2 के भीतर (M12 को छोड़कर 12 BCRA श्रृंखला II रंग टाइल्स के लिए औसत)
माप मोड एकल माप, औसत माप (2-99)
आकार (एल * डब्ल्यू * एच) 184 * 77 * 105 मिमी
वजन लगभग 600 ग्रा
 

 

सम्पर्क करने का विवरण
Beijing HiYi Technology Co., Ltd

व्यक्ति से संपर्क करें: Lisa Niu

दूरभाष: 86-15699785629

फैक्स: +86-010-5653-8958

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